您的位置: 首頁(yè) 首頁(yè) » 靖邦新聞中心 » 資訊中心 » pcba技術(shù)文章 » PCB來(lái)料檢測(cè)
您的位置: 首頁(yè) 首頁(yè) » 靖邦新聞中心 » 資訊中心 » pcba技術(shù)文章 » PCB來(lái)料檢測(cè)
一、PCB尺寸與外觀檢測(cè)
PCB尺寸檢測(cè)內(nèi)容主要有加工孔的直徑、間距及其公差和PCB邊緣尺小等。外觀缺陷檢測(cè)內(nèi)容主要有阻焊膜和焊盤對(duì)準(zhǔn)情況,阻焊膜是否有雜質(zhì)、剝離及起皺等異常情況,基準(zhǔn)標(biāo)記是否合格,電路導(dǎo)體寬度(線寬)和間距是否符合要求,多層板是否有剩層等。實(shí)際應(yīng)用中,常采用PCB外觀測(cè)試專用設(shè)各対其進(jìn)行檢測(cè)。典型設(shè)各主要由計(jì)算機(jī)、自動(dòng)工作臺(tái)圖像處理系統(tǒng)等部分組成。這種系統(tǒng)能對(duì)多層板的內(nèi)層和外層、單/雙面板、底圖膠片進(jìn)行檢測(cè),能檢出斷線、搭線、劃痕、針孔、線寬線距、邊沿粗糙及大面積缺陷等。
二、PCB的翹曲和扭曲檢測(cè)
設(shè)計(jì)不合理和工藝過(guò)程處理不當(dāng)都有可能造成PCB的翹曲和擔(dān)曲,其測(cè)試方法在IPC-TM650等標(biāo)準(zhǔn)中有規(guī)定。測(cè)試原理基本為:將被測(cè)試PCB暴露在組裝工藝具有代表性的熱環(huán)境中,對(duì)其進(jìn)行熱應(yīng)力測(cè)試。典型的熱應(yīng)力測(cè)試方法是旋轉(zhuǎn)浸漬測(cè)試和焊料漂浮測(cè)試,在這種測(cè)試方法中,將PCB浸漬在熔融焊料中一定時(shí)間,然后取出進(jìn)行翹曲和扭曲檢測(cè)人工測(cè)量PCB翹曲度的方法是:將PCB的三個(gè)角緊貼桌面,然后測(cè)量第四個(gè)角距桌面的距離。這種方法只能進(jìn)行粗略測(cè)估,更有效的方法還有波紋攝像方法等。波紋影像方法是:在被測(cè)PCB上放置一塊每英寸100線的光,另設(shè)一標(biāo)準(zhǔn)光源在上方45”入射角通過(guò)光棚到PCB,由光在PCB上產(chǎn)生光棚影像,然后用一個(gè)CCD攝像機(jī)在PCB正上方(0”)觀察光棚影像。這時(shí),在整個(gè)PCB上可以看到兩個(gè)光棚之間產(chǎn)生的集合干涉條紋,這種條紋顯示了Z軸方向的偏移量,可數(shù)出條紋的數(shù)量計(jì)算PCB的偏移高度,然后通過(guò)計(jì)算轉(zhuǎn)化成翹曲度。
三、PCB的可焊性測(cè)試
PCB的可焊性測(cè)試重點(diǎn)是焊盤和電鍍通孔的測(cè)試,IPCS-804等標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定有PCB的可焊性測(cè)試方法,它包含邊緣浸測(cè)試、旋轉(zhuǎn)浸測(cè)試和焊料珠測(cè)試等。邊緣浸測(cè)試用于測(cè)試表面導(dǎo)體的可焊性,旋轉(zhuǎn)浸漬測(cè)試和波峰沒測(cè)試用于表面導(dǎo)體和電彼通孔的可焊性測(cè)試,焊料珠測(cè)試僅用于電通孔的可焊性測(cè)試
四、PCB阻焊膜完整性測(cè)試
在SMT用的PCB一般采用干膜阻焊膜和光學(xué)成像阻焊膜,這兩種阻焊膜具有高的分率和不流動(dòng)性。干膜阻焊膜是在壓力和熱的作用下層壓在PCB上的,它需要清潔的PCB表面和有效的層壓工藝。這種阻焊膜在錫一鉛合金表面的黏性較差,在回流焊產(chǎn)生的熱應(yīng)力沖擊下,常常會(huì)出現(xiàn)從PCB表面剝層和斷裂的現(xiàn)象,這種阻焊膜也比較脆,進(jìn)行整平時(shí)受熱和機(jī)械力的影響下可能會(huì)產(chǎn)生微裂紋。另外,在清洗劑的作用下也有可能產(chǎn)生物理和化學(xué)損壞。為了預(yù)防干膜阻焊膜這些潛在的缺陷,應(yīng)在來(lái)料檢測(cè)中對(duì)PCB進(jìn)行嚴(yán)格的熱應(yīng)力試驗(yàn)。這種檢測(cè)多采用焊料漂浮試驗(yàn),時(shí)間約為10~15,焊料溫度約為260~288℃。當(dāng)試驗(yàn)時(shí)觀察不到阻焊膜剝層現(xiàn)象,可將PCB試件在試驗(yàn)后浸入水中,利用水在阻焊膜與PCB表面之間的毛細(xì)管作用觀察阻焊膜剝層現(xiàn)象。還可將PCB試件在試驗(yàn)后浸入SMA清洗溶劑中,觀察其與溶劑有無(wú)物理的和化學(xué)的作用
五、PCB內(nèi)部缺陷檢測(cè)
檢測(cè)PCB的內(nèi)部缺陷一般采用顯微切片技術(shù),其具體檢測(cè)方法在IPC-TM-650等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中有明確規(guī)定。PCB在焊料漂浮熱應(yīng)力試驗(yàn)后進(jìn)行顯微切片檢測(cè),主要檢測(cè)項(xiàng)目有銅和錫鉛合金鍍層的厚度、多層板內(nèi)部導(dǎo)體層間對(duì)準(zhǔn)情況、層間空隙和銅裂紋等。
文章來(lái)源:靖邦
文章鏈接:http://98golf.cn
深圳市靖邦電子有限公司 版權(quán)所有 備案號(hào) : 粵ICP備14092435號(hào)-2
電話:13418481618 傳真:0755-26978080 QQ:2355757343
地址:深圳市光明區(qū)玉塘街道紅星社區(qū)第三工業(yè)區(qū)星湖路35號(hào)3樓廠房
郵箱:pcba06@pcb-smt.net
掃一掃,更多精彩